Mécanisme de croissance et formation des défauts dans les couches minces en microscopie et diffraction électroniques

Publisher: Edp Sciences

E-ISSN: 0035-1687|15|2|271-276

ISSN: 0035-1687

Source: Revue de Physique Appliquée (Paris), Vol.15, Iss.2, 1980-02, pp. : 271-276

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